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一、仪器的用途：
XPR-350型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等 专业最常用的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化，该仪器采用微电脑检测，有自动P、I、D调节，及模糊手动调节功能，通过LED显示温度值及设定温度值,仪表显示准确、清晰.稳定，对温度可设定时间间隔内或随机打印温度数据，设有“上、下”限自动报警装置，并可随时检查设定的温度数据，是新一代熔点测温，控温装置。配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件，本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。是一组具有较完备功能和良好品质的新型产品。
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二、技术参数
1.目镜
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类 别
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放大倍数
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视场(mm)
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平场目镜
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10X
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φ18
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分划目镜
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10X
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φ18
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2.物镜
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类 别
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放大倍数
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数值孔径(NA)
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工作距离(mm)
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无应力平场消色差
物镜
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4X
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0.10
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21.5
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10X
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0.25
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11.3
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20X
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0.65
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11.06
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50X
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0.85
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9.6
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3.光学放大倍数：40X -- 500X
4.系统放大倍数：40X-2600X
5.旋转载物台：可拆卸移动机构 移动范围：30mm×40mm
6.调焦机构：同轴共轨式粗微动调焦
7.调节范围 26mm，微动格值 0.002 mm，带锁紧和限位装置
8.透射照明：起偏器可360°旋转，有0、90、180、270四个读数光源6V/20W卤素灯，亮度可调阿贝聚光镜 N.A=1.25 可上下升降
9.中间接筒：内置检偏器，可自由切换正常观察与偏光观察，90°旋转，带刻度，游标格值
10.补偿器：石膏λ片，云母λ/4片，石英契子
11.防霉功能：特有的防霉系统
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三、系统简介
偏光熔点测定仪系统是将精密的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机图像处理技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在显示屏上很方便地观察实时动态图像，并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。
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四、热台：
1.显微精密控温仪
在 50X 物镜下工作温度可达到最高350 ℃ 、温度运行程序全自动控制；温度程序段由用户自行设定，30段温度编程，循环操作，能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度，及在该段内可维持时间，升温速率可调、精度±0.3 ℃、记忆点读数
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2.显微加热平台
可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于± 0.1
起始温度室温
工作区加热使用面积直径22毫米
工作区温度梯度不超过 ± 0.1oC
透光区域 3毫米
温度控制精度：正负0.3度
232通讯，可PC端控温，控温精度均为正负0.3度
五、系统组成
电脑型偏光热台（XPR-300C）：1、偏光显微镜 2、热台 3.500万高清CCD 4、进口摄像器可选 5、计算机（可选）
数码型偏光热台（XPR-300D）：1、偏光显微镜 2、热台 3、数码相机系统 4.热台
